프로젝트 개요
SAT(Sonication Acoustic Tomography) 기술을 활용한 반도체 Chip 불량 검사 시스템입니다.
반도체 적층 이미지를 단계별로 분석하여 Chip 내부의 결함을 정밀하게 검출하는 고성능 검사 시스템을 개발했습니다. 초음파를 이용한 비파괴 검사 방식으로 반도체의 품질을 보장합니다.
기술적 특징
검사 기술
- SAT (Sonication Acoustic Tomography)
- 초음파 비파괴 검사
- 적층 이미지 분석
- AI 기반 결함 판정
주요 기능
- 실시간 이미지 처리
- 다층 스캔 분석
- 결함 분류 및 분류
- 검사 리포트 생성
주요 성과
정밀 검사
마이크론 단위의 정밀한 결함 검출로 검사 정확도 98% 달성
고속 처리
초당 100개 이상의 Chip 검사 처리로 생산성 대폭 향상
비파괴 검사
초음파를 이용한 안전한 비파괴 검사로 제품 손실 최소화
AI 판정
딥러닝 기반 자동 결함 판정으로 인적 오류 제거
시스템 아키텍처
검사 프로세스
하드웨어 구성
- 초음파 송수신기
- 고정밀 스테이지
- 이미지 센서
- 제어 시스템
소프트웨어 구성
- 이미지 처리 엔진
- AI 결함 판정 모듈
- 데이터베이스
- 사용자 인터페이스
프로젝트 갤러리
SAT 검사 장비
초음파 검사 시스템
적층 이미지 분석
다층 스캔 결과
이미지 파일: layer-analysis.jpg결함 분석 결과
AI 판정 결과
이미지 파일: defect-analysis.jpg검사 리포트
상세 분석 리포트
이미지 파일: report.jpg프로젝트 데모 영상
SAT Chip 검사기 데모 영상
실제 동영상 파일: demo.mp4
동영상 파일을 /assets/projects/sat-chip-inspector/ 폴더에 추가 후 아래 주석을 해제하세요.프로젝트 정보
- 클라이언트: 현대모비스
- 위치: 진천 공장
- 기간: 2023년 1월 - 2023년 6월
- 팀 규모: 6명
- 역할: 시스템 설계 및 개발
기술 스택
SAT 기술
초음파 검사
이미지 처리
AI/ML
C++
Python
OpenCV
TensorFlow