프로젝트 개요
Line Scan Camera를 이용하여 IC Chip 모듈의 압흔 분포를 검사하는 프로젝트입니다.
정밀한 압흔 분포 검사를 통해 품질을 보장합니다.
기술적 특징
개발 환경
- Line Scan Camera
- IC Chip 검사
- 이미지 처리
주요 기능
- 압흔 분포 검사
- 불량 판정
- 데이터 로깅
주요 기능
정밀 검사
IC Chip의 압흔 분포를 정밀하게 검사
데이터 관리
검사 결과 데이터 로깅 및 분석
불량 판정
압흔 불량 자동 판정
글로벌 적용
해외 공장에 적용 가능한 시스템
기술 아키텍처
시스템 구성
압흔 검사
- Line Scan Camera
- IC Chip 검사
- 이미지 처리
데이터 관리
- 데이터 로깅
- 불량 판정
- 리포트 생성
프로젝트 갤러리
메인 화면
Line Scan 검사기 메인 화면
이미지 파일: main-screen.jpeg프로젝트 데모 영상
Line Scan 검사기 데모 영상
Line Scan 검사기 실제 동작 모습을 보여줍니다.
프로젝트 정보
- 클라이언트: -
- 위치: -
- 기간: -
- 팀 규모: -
- 역할: Line Scan 압흔 검사기 개발
기술 스택
Line Scan
IC Chip
압흔 검사
이미지 처리